Obisk Laboratorijev SEM in XRD v Sij Metal Ravne, d.o.o.

Študenti 1. letnika magistrskega študijskega programa Tehnologija polimerov so dne 29. novembra 2019 v okviru predmeta Lastnosti in karakterizacija polimerov in polimernih materialov obiskali podjetje Sij Metal Ravne, d.o.o. in si ogledali  optične mikroskope v metalografskem laboratoriju, vrstični elektronski mikroskop (SEM) v Laboratoriju za vrstično elektronsko mikroskopijo ter rentgenski difraktometer (XRD) v Laboratoriju za rentgensko strukturno analizo. Dr. Blaž Šuler navzočim je prijazno demonstriral potek snemanja na SEM in XRD ter razložil mikrografije SEM in energijsko disperzijskega spektrometra (SEM-EDS) ter difraktograme XRD na primerih vzorcev vključkov v jeklu.